?三次元測(cè)量?jī)x，主要是通過三維取點(diǎn)來進(jìn)行測(cè)量的儀器。市場(chǎng)上也有叫三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，三維坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，三次元測(cè)量?jī)x的。三次元測(cè)量?jī)x被廣泛應(yīng)用于工程開發(fā)、繪圖測(cè)量、品檢檢測(cè)等領(lǐng)域，是一種用來做空間幾何運(yùn)算的儀器。
三次元測(cè)量?jī)x的檢測(cè)方法主要有以下兩種：

接觸式測(cè)量法：這種方法主要通過探針與被測(cè)物體表面的接觸來測(cè)量物體的三維形狀和尺寸。這種方法適用于表面光潔度較高的物體，如金屬零件、塑料件等。

非接觸式測(cè)量法：這種方法不需要與被測(cè)物體直接接觸，而是利用光學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量。主要包括光學(xué)測(cè)量法、掃描測(cè)量法和投影測(cè)量法。這種方法適用于表面光潔度較低的物體，如涂層、玻璃等。

以上是三次元測(cè)量?jī)x的主要檢測(cè)方法，根據(jù)不同的被測(cè)物體和測(cè)量需求，可以選擇合適的方法進(jìn)行測(cè)量。