?三次元測(cè)量?jī)x,主要是通過三維取點(diǎn)來進(jìn)行測(cè)量的儀器。市場(chǎng)上也有叫三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,三維坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,三次元測(cè)量?jī)x的。三次元測(cè)量?jī)x被廣泛應(yīng)用于工程開發(fā)、繪圖測(cè)量、品檢檢測(cè)等領(lǐng)域,是一種用來做空間幾何運(yùn)算的儀器。
?
三次元測(cè)量?jī)x的檢測(cè)方法主要有以下兩種:
接觸式測(cè)量法:這種方法主要通過探針與被測(cè)物體表面的接觸來測(cè)量物體的三維形狀和尺寸。這種方法適用于表面光潔度較高的物體,如金屬零件、塑料件等。
非接觸式測(cè)量法:這種方法不需要與被測(cè)物體直接接觸,而是利用光學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量。主要包括光學(xué)測(cè)量法、掃描測(cè)量法和投影測(cè)量法。這種方法適用于表面光潔度較低的物體,如涂層、玻璃等。
以上是三次元測(cè)量?jī)x的主要檢測(cè)方法,根據(jù)不同的被測(cè)物體和測(cè)量需求,可以選擇合適的方法進(jìn)行測(cè)量。